商品詳情
產(chǎn)品特點(diǎn)：
XR4A顯微熔點(diǎn)測定儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗、檢驗；高等院校化學(xué)系等部門對單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程提供了有利的熔點(diǎn)測定裝置。
技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時），±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時）
溫度顯示最小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×